[報告簡介]

    顯微拉曼光譜經(jīng)常用來表征包括化學、磁性、電子、對稱性和二維材料的層取向在內的各種性質。材料的多種新奇物理現(xiàn)象發(fā)生在4K-500K溫度范圍，我們可以通過變溫測量獲得關于樣品有趣的新性。本次報告中我們將展示使用全自動、超低振動的變溫顯微拉曼和光致發(fā)光測試平臺在整個溫度范圍(4K - 500K)對二維材料的高分辨率、高效率的光譜測量和二維成像測試結果。實驗采用超低振動變溫平臺、低熱容樣品臺、高NA物鏡、低散光光路、高性能光譜儀系統(tǒng)，*克服了變溫過程中樣品位置漂移等多種變溫測量面臨的挑戰(zhàn)。

    推動新型量子材料在電子和光電子域應用的個重要方面是“加工”2D半導體異質結材料，形成合適的帶隙。例如將層MoS₂剝離，將其置于另層或幾層的單晶(WS₂)之上，再加入另層二維晶體，以此類推。由此產(chǎn)生的異質結構代表了新的人工材料，它們按照的順序以單層精度在范德瓦爾斯力的作用下保持在起。而變溫顯微拉曼和熒光測量平臺在對這些新型材料的表征方面具有*的勢，使您在量子材料的研究上路凱歌。

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[主講人介紹]

Craig Wall，北卡羅萊納大學物理化學博士，伊諾伊大學厄巴納-香檳分校貝克曼研究所的博士后。25年的顯微鏡和科學儀器開發(fā)經(jīng)驗，在掃描探針顯微鏡、AFM-Raman和TERS、納米壓痕、納米力學測試設備和臺式場發(fā)射掃描電子顯微鏡等域工作多年。Craig Wall博士于2017年加入低溫光譜的Montana Instruments公司，擔任應用和市場開發(fā)科學家。

[報告時間]

開始  2020年06月05日  10:00

結束  2020年06月05日  11:00

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